红外线测温仪在工业现场应用中的干扰问题

2019-08-29

  红外线测温仪一般采用辐射测温,辐射测温为非接触测温,在测量中常常受到外界干扰。这些干扰大致可分为 光路中的干扰、外来光的干扰、发射率变化的干扰、环境温度变化和电磁方面的干扰, 其中环境温度变化及电 磁方面的干扰,在设计和生产测温仪时应充分考虑。在应用中主要应保证仪器所允许的环境温度范围和对电源 的要求,可以釆取一些如水冷套、稳压电源等措施,本文重点讨论来自光学方面的干扰。

  一、光路中的干扰

  一般把被测表面和辐射测温仪之间在测量上所必须通过的空间距离称作光路,例如,要测量轧制中的钢板表面 温度,在钢板上经常生成一层氧化皮并不断剥落;为了冷却设备和产品,常常在被测表面上停留有水膜,在被 测表面附近还经常存在着浓度化的水蒸气等;大气中还在CO2、CO、O2等有选择性吸收气体和尘埃等。这些都是 光路中的干扰,如不考虑将会带来很大误差,甚至导致失去测量的意义!下面我们分几次简要介绍克服和减弱 光路中各种干扰的办法。

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